SWIR (NIR) - Applikationen (Beispiele)


  • Defekte in Silizium erkennen (Hohlräume, Brüche, Verunreinigungen) durch die hoch quanteneffizienten Detektoren von FLIR
  • Bestimmung der Verluste von Lichtwellenleitern
  • SWIR-Mikroskopie über c-mount-Anschluß
  • Applikationen mit Notwendigkeit der Steuerung von Kontrast und Helligkeit im Bereich weniger Photonen

Analyse von Walzprozessen im Stahlwerk

 

  • ultrakurze Belichtungszeiten sichern scharfe Bilder ohne Verzerrungen
  • fernfokussierbare Optiken erlauben die Bildaufnahme aus sicherer Entfernung
  • klare Sichtbarkeit von Details zur Beurteilung von Überwalzungen, Falzbildung und Rissen
  • Temperaturmessung im Infrarotbild ab 400 °C

Analyse von kristallisierenden Schmelzen und Gläsern

 

  • Erkennung von Glasverunreinigungen im Schmelzprozeß
  • Erkennung verunreinigter Siliziumblöcke
  • Temperatur- und Strahlungsdichtemessung durch Gläser hindurch
  • spektrale transmittive Bewertung von Kristallen
  • Temperaturmessung durch Glasschmelzen hindurch
  • Visualisierung von Dichteunterschieden im Glas
  • Analyse von Brennern für Glaswannen
  • Analyse von Mehrphasenbrennern
  • Analyse von konvektivem Transport in fluiden Medien

Elektroluminiszenzprüfung an PV-Zellen & PV-Modulen

 

 Durch Anlagen eines elektrischen Feldes oder einer elektrischen Spannung wird ein Festkörper dazu angeregt, elektromagnetische Strahlung (Licht) zu emittieren.

Defekte in der Struktur und den Verbindungen werden sichtbar.

 

Die temperaturstabilierten und gekühlten NIR-Kameras von FLIR haben eine wesentlich höhere Detektivität als Standard-NIR-Kameras oder digitale Photografie mit "Night-Vision-Optiken".


Lebensmittelprüfung

 

Erkennung von geschädigten Früchten und Gemüsen bei unbeschädigter Außenhülle

 

Quelle: FLIR Systems Inc.


Überprüfung von Kunstwerken

 

Die Messung mit NIR zeigt verborgene Farbschichten, frühere Umarbeitungen oder Beschädigungen.

 

Quelle: FLIR Systems Inc.